圖為胡海巖院士（右）與郭位院士交流 攝影/ 唐葆君


　　本報(bào)訊4月2日香港城市大學(xué)（CityUniversityofHongKong）校長(zhǎng)郭位院士應(yīng)邀來(lái)我校進(jìn)行訪問和學(xué)術(shù)交流，并受到我校校長(zhǎng)胡海巖院士的親切接見，雙方就治學(xué)理念、合作辦學(xué)的可能性等問題進(jìn)行了深入的交流。胡海巖指出，希望兩校能在學(xué)術(shù)交流、國(guó)際化人才培養(yǎng)等方面加強(qiáng)合作。
　　當(dāng)日，郭位院士在研究生樓報(bào)告廳作了題為ChallengesRelatedtoReliabilityinModernElectronics的學(xué)術(shù)報(bào)告。報(bào)告會(huì)由管理與經(jīng)濟(jì)學(xué)院院長(zhǎng)魏一鳴教授主持，來(lái)自管理與經(jīng)濟(jì)學(xué)院、理學(xué)院、機(jī)電學(xué)院等學(xué)院的40多位老師和研究生參加了報(bào)告會(huì)。郭位院士首先以中國(guó)高速鐵路為例提出現(xiàn)代電子產(chǎn)品可靠性研究的重要性，并就現(xiàn)代電子產(chǎn)品面臨的失效機(jī)理的確定、良品率的提高、可靠性數(shù)據(jù)的稀缺性和保密性、與現(xiàn)代技術(shù)的結(jié)合等四個(gè)方面的挑戰(zhàn)進(jìn)行了深入淺出的講解。
　　郭位院士是國(guó)際工業(yè)工程界及電子工程界可靠性領(lǐng)域著名學(xué)者,具有極強(qiáng)的國(guó)際影響力，尤其是在系統(tǒng)可靠性最優(yōu)化設(shè)計(jì)與納米及微電子可靠性研究上作出了重要貢獻(xiàn)。（管理與經(jīng)濟(jì)學(xué)院趙先）